スペクトルドメイン偏光感受型光コヒーレンストモグラフィを提供することの可能な構成、システム、及び方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：青木篤 , 鶴田準一 , 島田哲郎 , 伊坪公一 , 水谷好男
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008507983
Publication number (International publication number)：2008538612
Application date： Apr. 24, 2006
Publication date： Oct. 30, 2008
Summary：

電磁放射を分離し、電磁放射を使用してサンプルの情報を入手するシステム、構成、及び方法が提供されている。具体的には、電磁放射の少なくとも1つの偏光及び少なくとも1つの波長に従って電磁放射を少なくとも1つの第1部分及び少なくとも1つの第2部分に分離可能である。第1及び第2の分離された部分を同時に検出可能である。更には、第1放射をサンプルから入手可能であり、且つ、第2放射を基準から入手可能であり、第1及び第2放射を合成して更なる放射を形成可能であり、この場合に、第1及び第2放射は、電磁放射と関連付けられている。情報は、以前に分離された更なる放射の第1及び第2部分の関数として提供され、これを分析することにより、サンプルを特徴付けている複屈折情報を抽出可能である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

電磁放射を分離するための装置であって、前記電磁放射の少なくとも1つの偏光及び少なくとも1つの波長に応じて前記電磁放射を少なくとも1つの第1部分及び少なくとも1つの第2部分に分離するべく構成された第1構成と、前記分離された第1及び第2部分を同時に検出するべく構成された第2構成と、を有する装置。

IPC (4)：

G01N 21/17 , G02B 26/10 , G02F 1/01 , A61B 3/12

FI (4)：

G01N21/17 620 , G02B26/10 104Z , G02F1/01 B , A61B3/12 E

F-Term (23)：

2G059AA05 , 2G059AA06 , 2G059BB20 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059EE17 , 2G059FF02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ14 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059KK04 , 2H045BA02 , 2H045BA42 , 2H079BA02 , 2H079EA11 , 2H079FA02 , 2H079KA01 , 2H079KA06 , 2H079KA14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

分光偏光解析装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-513924 Applicant：サーマ-ウェイブ・インク
偏光感受型光スペクトル干渉コヒーレンストモグラフィー装置及び該装置による試料内部の偏光情報の測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-217274 Applicant：株式会社筑波リエゾン研究所
光学的イメージを形成するシステム、方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-196762 Applicant：マサチューセッツ・インステチュート・オブ・テクノロジー

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