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J-GLOBAL ID：200903070529854254

制御装置

Inventor： 藤枝 護 ,  大須賀 稔 ,  野木 利治 ,  大山 宜茂
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998092941
Publication number (International publication number)：1998331701
Application date： Feb. 09, 1990
Publication date： Dec. 15, 1998
Summary：

【要約】【課題】アクチュエータの動作が正しく物理量に反映される精度の良い制御装置を提供すること。【解決手段】上記課題は、アクチュエータの作動によって変化するある物理量を検出する第1のセンサと、前記ある物理量の目標値と、前記第1のセンサの出力と、前記第1のセンサとは別の第2のセンサ出力とを入力するニューロコンピュータとを備え、前記アクチュエータは前記ニューロコンピュータの出力に基づいて制御される制御装置によって達成される。

Claim (excerpt)：

アクチュエータの作動によって変化するある物理量を検出する第1のセンサと、前記ある物理量の目標値と、前記第1のセンサの出力と、前記第1のセンサとは別の第2のセンサ出力とを入力するニューロコンピュータとを備え、前記アクチュエータは前記ニューロコンピュータの出力に基づいて制御される制御装置。

IPC (9)：

F02D 41/34 ,  B60K 41/28 ,  F02D 41/00 ,  G05B 11/32 ,  G05B 13/02 ,  G05B 15/02 ,  G05B 21/02 ,  G06F 15/18 550 ,  B60G 23/00

FI (9)：

F02D 41/34 W ,  B60K 41/28 ,  F02D 41/00 ,  G05B 11/32 A ,  G05B 13/02 L ,  G05B 21/02 A ,  G06F 15/18 550 E ,  B60G 23/00 ,  G05B 15/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-037015
  
• 特開平2-287860
  
• 特開平2-033655
  
• 特開平3-096636