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J-GLOBAL ID：200903070545205843

顕微鏡試料前処理用アタッチメント及びこれを用いた破断面作製方法

Inventor： 宇野 久美子
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 吉田 勝広 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993135240
Publication number (International publication number)：1994324269
Application date： May. 14, 1993
Publication date： Nov. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】 試料の特定の部位に容易に且つ正確にけがき傷を入れることが出来、効率よく破断面を作製することが出来る顕微鏡試料前処理用アタッチメント及びこれを用いた破断面作製方法を提供すること。【構成】 光学顕微鏡の対物レンズの取り付け位置に設置される構造を有するスクライバーと、光学顕微鏡の試料ステージ部に設置されるスライド式試料ステージとからなることを特徴とする顕微鏡試料前処理用アタッチメント及びこれを用いた破断面作製方法。

Claim (excerpt)：

光学顕微鏡の対物レンズの取り付け位置に設置される構造を有するスクライバーと、光学顕微鏡の試料ステージ部に設置されるスライド式試料ステージとからなることを特徴とする顕微鏡試料前処理用アタッチメント。