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J-GLOBAL ID：200903070632401012
非破壊検査測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995058960
Publication number (International publication number)：1996254510
Application date： Mar. 17, 1995
Publication date： Oct. 01, 1996
Summary：
【要約】【目的】 X線に対する吸収係数の値が小さい場合でも大きなコントラストを持つ感度の高い非破壊検査測定装置を実現する。【構成】 同一の回折格子定数を持ち、厚みが等しい4枚の平行平面板11〜14をそれぞれ平行に配置すると共に、第2の平行平面板と第3の平行平面板との間に被験物を配置し、第1の平行平面板11にブラッグ角にてX線を入射し、第1の平行平面板11を透過し第2の平行平面板12で回折されたX線と第1の平行平面板11で回折され第2の平行平面板12を透過したX線を共に被験物15に入射せしめ、被験物を透過した後、第3の平行平面板を透過し第4の平行平面板で回折されたX線と第3の平行平面板で回折され第4の平行平面板を透過したX線との干渉を検出器によって検出することにより被験物の内部検査測定を行うことを特徴とする非破壊検査測定装置。
Claim (excerpt)：
同一の回折格子定数を持ち、厚みが等しい4枚の平行平面板をそれぞれ平行に配置すると共に、第2の平行平面板と第3の平行平面板との間に被験物を配置し、第1の平行平面板にブラッグ角にてX線を入射し、第1の平行平面板を透過し第2の平行平面板で回折されたX線と第1の平行平面板で回折され第2の平行平面板を透過したX線を共に被験物に入射せしめ、被験物を透過した後、第3の平行平面板を透過し第4の平行平面板で回折されたX線と第3の平行平面板で回折され第4の平行平面板を透過したX線との干渉を検出器によって検出することにより被験物の内部検査測定を行うことを特徴とする非破壊検査測定装置。
Patent cited by the Patent：
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