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J-GLOBAL ID：200903070679394804
光学式3次元計測装置、及び光学式3次元計測方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
早瀬 憲一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999033743
Publication number (International publication number)：2000230815
Application date： Feb. 12, 1999
Publication date： Aug. 22, 2000
Summary：
【要約】【課題】 三角測量の原理に基づいて被検体の表面形状データを計測する光学式3次元計測装置においては、センサと被検体の計測ポイントとの間に、被検体の凹凸による障害物が存在する場合、センサのポジションによっては、上記障害物により死角領域となり、ノイズを多く含んだ信号を計測してしまい、計測精度が劣化するケースが生じる。従来の画像再構成処理において、上記劣化したデータを含んだまま処理を行っていたため、画像を再構成する際において画質が劣化し、信頼性が欠如していたという問題を解決する画像再構成方法を提供する。【解決手段】 計測精度が劣化したセンサ情報を除外し、それ以外のセンサで計測したデータのみを用いて画像再構成を行うことで、これまで劣化していた段差領域の画質精度を向上させる。
Claim (excerpt)：
複数のセンサを異なる位置に配置し、測定を行う対象オブジェクト(以下、被検体と称す)にエネルギーを照射し、被検体から放出されるエネルギーを各センサで計測し、計測したデータから被検体座標を3次元空間で決定し、エネルギー照射系を移動させながら、上記処理を繰り返す、光学式3次元計測装置において、1点の計測ポイントに対して、複数のセンサで計測した複数の信号から、1つの値を決定する画像再構成処理は、計測した3次元位置情報から、被検体上のサンプリング座標点と各センサとを結ぶ信号伝達経路を決定し、決定した信号伝達経路において信号を遮断する障害物が存在しないセンサを適用センサとし、障害物の存在するセンサを否適用センサとして決定する工程と、上記適用センサで計測した信号のみを用いて、サンプリング座標点における値を決定する工程と、を含む、ことを特徴とする光学式3次元計測装置。
FI (2)：
G01B 11/24 K
, G01B 11/24 A
2F065AA04
, 2F065AA24
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD00
, 2F065FF09
, 2F065GG04
, 2F065HH13
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ16
, 2F065MM03
, 2F065MM07
, 2F065UU05
