Pat

J-GLOBAL ID：200903070705928146

表面層特性の測定方法および装置

Inventor： 永島 良昭 ,  小池 正浩 ,  川又 啓人
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 武 顕次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996007501
Publication number (International publication number)：1997196900
Application date： Jan. 19, 1996
Publication date： Jul. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 音響信号の伝播経路長が未知の場合においても、被検体の表面層の特性を測定できる方法および装置を提供する。【解決手段】 鋼材10の表面に硬化層11が形成された面を伝播する表面波のうち、受信器1側に屈折する超音波8を受信器1で受信する。受信器2は受信器1から離れて配置し、受信器2側に屈折する超音波9を受信する。超音波8と超音波9は、電気信号に変換され、超音波探傷器等で構成される音響受信部3で増幅され、デジタルオシロスコープ等で構成されるデジタイザ4でデジタル信号に変換される。このデジタル信号を使って群遅延時間演算部5で超音波8と超音波9の複数周波数の群遅延時間を計算し、表面層特性演算部6で表面層の特性を計算する。

Claim (excerpt)：

被検体から受信した複数の音響信号から、該被検体の表面層の特性を測定する表面層特性測定方法において、前記複数の音響信号の中の二つの音響信号間の任意の周波数の群遅延時間を求め、あらかじめ求めておいた群遅延時間と前記表面層特性との関係に基づいて、求められた前記二つの音響信号間の任意の周波数の群遅延時間を表面層特性に変換し、被検体の表面層の特性を測定することを特徴とする表面層特性の測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭62-277554
  
• 特公平5-062771
  
• 特開昭62-277554
  
• 特公平5-062771