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J-GLOBAL ID：200903070728171018

標本の配列から標本を切除する方法と装置

Inventor： オステルマン、ディルク ,  ビン、チェン、ホン ,  ファバー、ピーター ,  クラガルジャク、ジョージ ,  グーリイ、アンドリュー、アーサー
Applicant, Patent owner： マクアリー リサーチ リミテッド
Agent (1)： 浅村 皓 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000513126
Publication number (International publication number)：2001517788
Application date： Sep. 25, 1998
Publication date： Oct. 09, 2001
Summary：

【要約】標本採集装置はテーブル12と、2本の柱16、18によって前記テーブルの上方に離隔されて支持された天井梁14とを含む。テーブルは全体的に水平の平面においてxおよびy方向に運動可能なように装着されている。テーブルをxおよびy方向に運動させることによって、テーブルのいずれかの部分が切断工具組立体の下方に位置決めしうる。コンピュータ制御手段がテーブル上の標本の配列の像を記録し、切断工具を制御して、前記配列から標本を切除し、取り上げ、選択された位置まで転送するようにするデジタルスキャナを含む。

Claim (excerpt)：

標本の配列から少なくとも1個の標本を切除する方法において、 (a)標本の配列における他の標本に対して少なくとも1個の標本の位置の電子像を記録する段階と、 (b)記録された像を利用して前記少なくとも1個の標本を切除するように切削工具を制御する段階と、 (c)切除した標本を保持している切削工具にある切除した標本を取り上げ、切削工具を選択位置に対して運動させる段階と、 (d)少なくとも1個の切除された標本を選択位置に置く段階とを含むことを特徴とする少なくとも1個の標本を切除する方法。

IPC (5)：

G01N 1/08 ,  B26D 5/34 ,  B26D 7/18 ,  G01N 1/04 ,  G01N 35/10

FI (6)：

G01N 1/08 A ,  G01N 1/08 G ,  B26D 5/34 B ,  B26D 7/18 Z ,  G01N 1/04 X ,  G01N 35/06 A

F-Term (1)：

3C024GG00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-017635
  
• ゴム試験用試験片の自動打抜き方法及びその自動打抜き装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-121296   Applicant：横浜ゴム株式会社, 株式会社東洋精機製作所
• パワーテイクオフ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-221332   Applicant：自動車部品工業株式会社