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J-GLOBAL ID：200903070746622884

計算機プログラム部品のテスト支援装置

Inventor： 小林 茂
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995223817
Publication number (International publication number)：1997069056
Application date： Aug. 31, 1995
Publication date： Mar. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】 自動的に計算機プログラム部品のテストを行ない、そのテスト状況を報知することのできる計算機プログラム部品のテスト支援装置を提供する。【解決手段】 本発明は、テスト対象となる計算機プログラム部品の満たすべきパラメータ等の条件からテストケース仕様を生成するテストケース仕様生成手段と、このテストケース仕様のうち、1つを選択してテスト用プログラム部品に設定するテストケース設定手段(2b)と、テストケース設定手段により設定されたテストケースを記憶するテストケース記憶手段(3)と、テストケース記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テストケースのテスト状況を集計するテスト状況集計手段(4)と、テスト状況集計手段により集計されたテスト状況を報知するテスト状況報知手段(5)とを具備したことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

テスト対象となる計算機プログラム部品の満たすべきパラメータ等の条件からテストケース仕様を生成するテストケース仕様生成手段と、前記テストケース仕様生成手段にて生成されたテストケース仕様のうち、1つを選択してテスト用プログラム部品に設定するテストケース設定手段と、前記テストケース設定手段により設定されたテストケースを記憶するテストケース記憶手段と、前記テストケース記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テストケースのテスト状況を集計するテスト状況集計手段と、前記テスト状況集計手段により集計されたテスト状況を報知するテスト状況報知手段とを具備したことを特徴とする計算機プログラム部品のテスト支援装置。

IPC (2)：

G06F 11/28 340 ,  G06F 9/06 530

FI (2)：

G06F 11/28 340 A ,  G06F 9/06 530 W