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J-GLOBAL ID：200903070756558882

超音波流速計測装置

Inventor： 小椋 有希子 ,  片倉 景義
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995030423
Publication number (International publication number)：1996220124
Application date： Feb. 20, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【構成】二次元の配列素子により超音波の反射信号を受信し、各複数信号の位相回転速度を求め、これらの値から反射体の速度成分のうち極座標における半径方向、および前記二次元配列素子に平行な面内の直交する二つの方向における天頂角方向の速度成分を計測することを特徴とする超音波流速計測装置。【効果】異なる流速を持つ反射体の速度を三次元的に計測することが可能になる。

Claim (excerpt)：

二次元の配列素子により超音波の反射信号を受信し、各複数信号の位相回転速度を求め、これらの値から反射体の速度成分のうち極座標における半径方向、および前記二次元配列素子に平行な面内の直交する二つの方向における天頂角方向の速度成分を計測することを特徴とする超音波流速計測装置。

IPC (2)：

G01P 5/00 ,  A61B 8/00

FI (2)：

G01P 5/00 A ,  A61B 8/00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

• 特開平3-188377
  
• 超音波装置およびそれを用いたベクトルドプラ法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-062719   Applicant：株式会社日立製作所
• 超音波信号処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-014752   Applicant：株式会社日立製作所
• 超音波装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-082941   Applicant：株式会社日立製作所
• 超音波信号処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-292982   Applicant：株式会社日立製作所