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J-GLOBAL ID:200903070811085964

磁気ディスク用基板およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995174895
Publication number (International publication number):1997035234
Application date: Jul. 11, 1995
Publication date: Feb. 07, 1997
Summary:
【要約】【目的】ガラスセラミックス製の磁気ディスク用基板において、精密研磨加工によって加工面の中心線平均表面粗さを20オングストローム以下のレベルにまで短時間で減少させ、その強度を向上させ、その信頼性を向上させ、その薄型化を可能とすること。【構成】ガラスセラミックス製の磁気ディスク用基板であって、ガラスセラミックスを構成する結晶粒子の平均粒子径が、1.0μm以下であり、かつ主結晶層が、ニケイ酸リチウム(Li2 O・2SiO2 )相と、β-スポジュウメン(Li2 O・Al2 O3 ・4SiO2 )相またはβ-スポジュウメン固溶体相によって占められており、かつSiO2 組成の結晶相の占める割合が2重量%以下である。磁気ディスク用基板の表面の中心線平均粗さが20オングストローム以下である。
Claim (excerpt):
ガラスセラミックス製の磁気ディスク用基板であって、前記ガラスセラミックスを構成する結晶粒子の平均粒径が1.0μm以下であり、かつ主結晶層が、ニケイ酸リチウム(Li2 O・2SiO2 )相と、β-スポジュウメン(Li2 O・Al2 O3 ・4SiO2 )相またはβ-スポジュウメン固溶体相によって占められており、さらにSiO2 組成の結晶相の占める割合が2重量%以下であり、前記磁気ディスク用基板の表面の中心線平均粗さが20オングストローム以下であることを特徴とする、磁気ディスク用基板。
IPC (4):
G11B 5/66 ,  C03C 10/12 ,  G11B 5/82 ,  G11B 5/84
FI (4):
G11B 5/66 ,  C03C 10/12 ,  G11B 5/82 ,  G11B 5/84 Z

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