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J-GLOBAL ID：200903070815145414

パラメータ抽出システム

Inventor： 谷沢 元昭
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 吉田 茂明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995132059
Publication number (International publication number)：1996329123
Application date： May. 30, 1995
Publication date： Dec. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】 回路シミュレータで使用するパラメータの抽出の自動化を行い、作業負担の低減を図る。【構成】 プロセッサはROMに格納されたプログラムに基づき次の処理を実行する。先ず、パラメータの初期値を元にした固有値解析により誤差関数の変化に敏感なパラメータの組み合わせを求め、当該パラメータの組み合わせと測定データとに基づく誤差関数Sの最小値を求めて、その値が十分に小さいかを判断する。NOのときには、誤差関数Sの最小値を与えたパラメータに対する新たなヤコビアンを用いて更に固有値解析を行い、誤差関数の変化に敏感な新たなパラメータの組み合わせを求め、このパラメータの組み合わせに対して同様の処理を実施し、誤差関数Sの最小値又はパラメータの変化が十分に小さいと判断されたときに処理を終了する。

Claim (excerpt)：

LSI回路設計に於いて使用する回路シミュレーション用のパラメータの抽出を行うパラメータ抽出システムであって、トランジスタの電気特性の測定データを格納するメモリと、前記トランジスタの形状及び電気特性毎に感度解析を行い最適化すべき前記パラメータの組み合わせを動的に決定し、決定された前記パラメータの組み合わせと前記測定データとを用いた非線形最小二乗法により前記パラメータのフィッティングを行うプロセッサとを、備えたパラメータ抽出システム。