光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法及び装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002021254
Publication number (International publication number)：2003222571
Application date： Jan. 30, 2002
Publication date： Aug. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】材料の損傷の発生と状況、及び歪を評価する材料の損傷評価方法及び評価装置を実現する。【解決手段】 FBGセンサ10、10’を被検体2に取り付け、広帯域光源5から広帯域波長光を入力させ、特定の波長を有する光信号を反射させ、この反射光をFBGセンサと同じ光弾性定数、及び格子間隔を有するFBGを書き込んだ光ファイバを用いて処理し、弾性波放出にともない発生する高周波信号のみを光電変換器14、14’により電気信号に変換し、被検体2の損傷発生状況を調べるとともに、超音波発生素子8から超音波を発生させ、そのときに得られるFBGセンサ10、10’からの出力にフィルタ処理を施し、その波形から材料の損傷状況を調べる。

Claim (excerpt)：

FBGを書き込んだ光ファイバであるFBGセンサを被検体に取り付け、該FBGセンサに広帯域波長光を入力し、該FBGセンサから特定の波長を有する光信号のみを反射させ、該反射光を、上記FBGセンサと同じ光弾性定数及び格子間隔を有するFBGを書き込んだ光ファイバであるFBGフィルタを用いてフィルタ処理し、上記被検体の損傷発生に伴う弾性波放出で発生する高周波信号のみを光電変換器により電気信号に変換し、該電気信号から上記被検体の損傷発生状況を調べることを特徴とする光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法。

IPC (5)：

G01M 11/00 , G01B 11/16 , G01B 17/04 , G01D 5/26 , G01L 1/24

FI (6)：

G01M 11/00 U , G01M 11/00 R , G01B 11/16 Z , G01B 17/04 , G01D 5/26 D , G01L 1/24 A

F-Term (33)：

2F065AA01 , 2F065AA49 , 2F065AA60 , 2F065AA65 , 2F065BB05 , 2F065DD04 , 2F065FF32 , 2F065FF41 , 2F065FF49 , 2F065GG21 , 2F065JJ00 , 2F065JJ05 , 2F065LL02 , 2F065LL22 , 2F065LL41 , 2F065LL67 , 2F065PP22 , 2F065QQ25 , 2F068AA48 , 2F068KK00 , 2F068TT01 , 2F103BA10 , 2F103BA41 , 2F103CA06 , 2F103CA09 , 2F103EB08 , 2F103EB16 , 2F103EC09 , 2F103EC10 , 2F103EC16 , 2F103GA15 , 2G086CC05 , 2G086DD05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

動的変化検出方法、動的変化検出装置及び超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-133086 Applicant：富士写真フイルム株式会社
ボリュームホログラムからのフィードバックを用いた波長安定化レーザソース
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平7-509267 Applicant：アキュウエーブコーポレイション
貼り付け型光ファイバセンサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-114542 Applicant：エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社

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