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J-GLOBAL ID：200903070930897217

ガス分析装置

Inventor： 戸川 進 ,  浅野 一朗
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998181644
Publication number (International publication number)：2000002682
Application date： Jun. 12, 1998
Publication date： Jan. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】 センサの交換や、保守を行うときの作業性および信頼性を向上できるガス分析装置を提供する。【解決手段】 ガス分析装置1のセンサ3を分析装置本体2に接続するケーブル4の途中に、校正係数ユニット5を介在させ、この校正係数ユニット5が少なくとも対応するセンサ3の校正曲線を生成するのに必要な校正係数を含む情報を記憶した不揮発性メモリ6を有し、さらに、校正係数ユニット5と分析装置本体2を接続するケーブル4にコネクタ4aを設けて、センサ3および校正係数ユニット5をセンサユニットUとした。

Claim (excerpt)：

ガス分析装置のセンサを分析装置本体に接続するケーブルの途中に、校正係数ユニットを介在させ、この校正係数ユニットが少なくとも対応するセンサの校正曲線を生成するのに必要な校正係数を含む情報を記憶した不揮発性メモリを有し、さらに、校正係数ユニットと分析装置本体を接続するケーブルにコネクタを設けて、センサおよび校正係数ユニットをセンサユニットとしたことを特徴とするガス分析装置。