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J-GLOBAL ID：200903070967279149

プラズマディスプレイパネルの蛍光体検査装置及び検査方法

Inventor：
ナム サンウン

About ナム サンウン

, 
イ ヒョヒョン

About イ ヒョヒョン


Applicant, Patent owner：
エルジー エレクトロニクス インコーポレーテッド

About エルジー エレクトロニクス インコーポレーテッド


Agent (4)： 萼 経夫 ,  宮崎 嘉夫 ,  小野塚 薫 ,  中村 壽夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003374490
Publication number (International publication number)：2004158454
Application date： Nov. 04, 2003
Publication date： Jun. 03, 2004
Summary：
【課題】プラズマディスプレイパネルの蛍光体検査装置及び検査方法を提供する。【解決手段】少なくとも一つ以上の蛍光体128が塗布されたプラズマディスプレイパネルに紫外線を照射してそれぞれの蛍光体128を発光させる紫外線ランプ140と、紫外線ランプ140により蛍光体128から発される光を映像信号に変換させるカメラ130と、カメラ130より変換された映像信号を読み出して蛍光体128の不良有無を判断するマイコン150とを含むプラズマディスプレイパネルの蛍光体検査装置において、蛍光体128とカメラ130との間にはそれぞれの蛍光体128から発される光の明度差が大きくなるようにそれぞれの光を波長にしたがって差等透過させるフィルタ135が配設される。これにより、蛍光体の混色や暗点などの不良を迅速で正確に検査でき、生産費及び保守費を節減できる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
少なくとも一つ以上の蛍光体が塗布されたディスプレイパネルと、 前記塗布された蛍光体が発光されるように光を照射する紫外線ランプと、 前記発光される光をそれぞれの波長にしたがって差等透過させるフィルタと、 前記差等透過された光の読出し結果に基づいて前記蛍光体の不良有無を判断する制御手段と、 を含むことを特徴とする蛍光体検査装置。
IPC (5)：
H01J9/42 ,  G01M11/00 ,  G01N21/88 ,  H01J9/227 ,  H01J11/02
FI (6)：
H01J9/42 A ,  G01M11/00 T ,  G01N21/88 K ,  H01J9/227 C ,  H01J9/227 E ,  H01J11/02 B
F-Term (26)：
2G051AA90 ,  2G051AB12 ,  2G051BA05 ,  2G051CA04 ,  2G051CB10 ,  2G051CC07 ,  2G051CC15 ,  2G051EA08 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G086EE03 ,  5C012AA09 ,  5C012BE03 ,  5C028FF16 ,  5C028HH13 ,  5C040FA10 ,  5C040GA03 ,  5C040GF02 ,  5C040GG03 ,  5C040GG09 ,  5C040JA12 ,  5C040JA26 ,  5C040LA17 ,  5C040MA23 ,  5C040MA24 ,  5C040MA26
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (3)

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