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J-GLOBAL ID：200903070984391823

マトリックス支援レーザ脱離およびイオン化質量分光分析法のためのサンプルプレート

Inventor： ジョセフ・エル・ディセザール
Applicant, Patent owner： パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド
Agent (4)： 志賀 正武 ,  渡邊 隆 ,  村山 靖彦 ,  実広 信哉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006514247
Publication number (International publication number)：2006525525
Application date： Apr. 30, 2004
Publication date： Nov. 09, 2006
Summary：

標本の質量分光分析のためのサンプルに、電気伝導性の表面と、電気伝導性の表面に塗布されるマスクを有する基板が提供される。そのマスクは、粗い表面を用いて基板に塗布され、少なくとも1つのサンプルサイトを形成する。上記サンプルサイトは、電気伝導性の表面からなる中央部分と、前記中央部分よりも疎水性のマスクからなるマージン部分とを有する。

Claim (excerpt)：

電気伝導性の表面と、 粗い表面を用いて基板に塗布され、少なくとも1つのサンプルサイトを形成するマスクと、を有し、 前記サンプルサイトが、電気伝導性の表面からなる中央部分と、マスクからなるマージン部分であって前記中央部分よりも疎水性のマージン部分と、を有することを特徴とする標本の質量分光分析のためのサンプルプレート。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/04

FI (3)：

G01N27/62 V ,  H01J49/04 ,  G01N27/62 F

F-Term (10)：

2G041AA06 ,  2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA12 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA16 ,  2G041JA03 ,  5C038EE03 ,  5C038EF17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許第6,287,872号明細書
  
• 米国特許第5,958,345号明細書
  

Cited by examiner (1)

• 高スループットスクリーニングアッセイ用仮想ウェル
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-530310   Applicant：メルクエンドカムパニーインコーポレーテッド