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J-GLOBAL ID:200903070985808540

レーザ加工装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉村 暁秀 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996139920
Publication number (International publication number):1997323184
Application date: Jun. 03, 1996
Publication date: Dec. 16, 1997
Summary:
【要約】【課題】 加工用レーザ光とアライメント用レーザ光の集光位置が等しく、被加工物のアライメントの位置精度を向上させるレーザ加工装置を提供する。【解決手段】 レーザ加工装置100は、波長λ1 のレーザ光21を生成するレーザ光生成手段LS1、波長λ2 のレーザ光22を生成するレーザ光生成手段LS1、回折光学素子23を含む集光光学系を有する。波長λ1 の光について回折光学素子23の回折効率の最も高い回折次数m1 による焦点位置と、波長λ2 2 ≠λ1 )の光について回折光学素子23の回折効率の最も高い回折次数m2(m2 ≠m1 )による焦点位置が、略一致するよう構成する。両方のレーザ光は、同じ焦点距離でしかも無収差で被加工物5上に集光する。加工用レーザ光とアライメント用レーザ光の集光位置が等しく、被加工物のアライメントの位置精度の向上したレーザ加工装置を実現できる。
Claim (excerpt):
第1の波長λ1 のレーザ光を生成する第1のレーザ光生成手段と、第2の波長λ2 のレーザ光を生成する第2のレーザ光生成手段と、回折光学素子を含む集光光学系を有し、波長λ1 の光について該回折光学素子の回折効率の最も高い回折次数m1 による焦点位置と、波長λ2 (但しλ2 ≠λ1 )の光について該回折光学素子の回折効率の最も高い回折次数m2 (但しm2 ≠m1 )による焦点位置が、略一致することを特徴とするレーザ加工装置。
IPC (2):
B23K 26/06 ,  G02B 27/00
FI (3):
B23K 26/06 A ,  G02B 27/00 S ,  G02B 27/00 M

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