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J-GLOBAL ID：200903071022868578

IC不良解析装置

Inventor： 新島 宏信 ,  川本 裕資
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993304747
Publication number (International publication number)：1995134166
Application date： Nov. 09, 1993
Publication date： May. 23, 1995
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、CADデータが入力され、CADデータによるネットリストデータとマスクレイトデータと回路図データとが照合部で照合され、入力手段で指定する特定部分に対応するネットリストとマスクレイアウト及び回路図が表示することができ、一方、IC内部解析装置からの測定データで観察画像と波形が表示することができるIC不良解析装置において、回路図に付与されているネット名が自動的に測定データから得られる観察画像と波形図に付与できるIC不良解析装置を提供することを目的とする。【構成】 上記目的を達成するために、本発明は、回路図対測定データ照合部を設け、回路図対測定データ照合部で測定データと回路図表示部に指定されている特定部分と対応させて照合データB記憶部に記憶させ、その特定部分に付与されているネット名を観察画像や波形図に付与するようにした構成とする。

Claim (excerpt)：

CADデータが入力され、上記CADデータによるネットリストデータとマスクレイアウトデータと回路図データとが照合部で照合され、入力手段で指定する特定部分に対応するマスクレイアウトが表示でき、一方、IC内部解析装置からの測定データで観察画像が表示できるIC不良解析装置において、上記測定データを回路図表示部(31)に指定されている上記特定部分と対応させる回路図対測定データ照合部(33)と、観察画像表示部(38)に表示する上記観察画像の特定部分に、上記特定部分に付せられたネット名を付す照合データB記憶部(34)と、を具備することを特徴とするIC不良解析装置。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  G06F 17/50

FI (3)：

G01R 31/28 H ,  G06F 15/60 310 ,  G06F 15/60 360 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭62-276848
  
• 特開平4-034949
  
• 特開昭62-276848
  
• 特開平4-034949