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J-GLOBAL ID：200903071073726840
透過光測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
山田 正紀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995033543
Publication number (International publication number)：1996226895
Application date： Feb. 22, 1995
Publication date： Sep. 03, 1996
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、生体等の被測定散乱物体内の光吸収分布を測定する透過光測定装置に関し、散乱光中に埋もれた、光吸収分布の情報を担持する透過情報光を高感度で検出する。【構成】 光源1から射出された光束1aを物体光(第1の光束)1bと参照光(第2の光束)1cとに分割し、ビーム合成器7で、参照光と、被測定物体5を透過した物体光とを重ね合わせて光検出器8に導く。光検出器8で得られた画像はコンピュータ13に入力される。参照光1cの光路中には、光路長可変器9が備えられており、参照光1cの光路長が、例えば可干渉距離と非干渉距離とに変更される。コンピュータ13ではその光路長変更前後の画像どうしの差分画像が求められる。
Claim (excerpt)：
光源と、光検出器と、前記光源から射出された光束を第1の光束と第2の光束とに分割する光束分割手段と、前記光束分割手段から射出され被測定体を透過した前記第1の光束と前記光束分割手段から射出された前記第2の光束を前記光検出器に導く光学系と、前記第1の光束と前記第2の光束との光路長差がいずれも可干渉距離内にあるとともに前記第1の光束と前記第2の光束との位相差が互いに異なる位相差をもって、あるいは、前記第1の光束と前記第2の光束との光路長差が一方が可干渉距離内他方が可干渉距離外の光路長差をもって、前記第1の光束と前記第2の光束が前記光検出器に達するように、前記第1の光束および前記第2の光束のうちの少なくとも一方の光束の光路長を変更する光路長可変手段と、前記光検出器で検出された、前記光路長可変手段による光路長変更前後の双方の光強度に基づいて、前記第1の光束と前記第2の光束との干渉成分と非干渉成分のうちの干渉成分による光強度を抽出する干渉成分抽出手段とを備えたことを特徴とする透過光測定装置。
IPC (4)：
G01N 21/27
, G01B 9/02
, G01J 9/02
, G01N 21/45
G01N 21/27 Z
, G01B 9/02
, G01J 9/02
, G01N 21/45 A
