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J-GLOBAL ID：200903071178472364
光触媒膜の検査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中島 淳 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996023851
Publication number (International publication number)：1997218174
Application date： Feb. 09, 1996
Publication date： Aug. 19, 1997
Summary：
【要約】【課題】 床面や壁面の全体について光触媒薄膜の有無を、簡便かつリアルタイムで検査できる光触媒膜の検査方法を得る。【解決手段】 光触媒タイル10の光触媒薄膜14に電流計16のプローブ18を接触させ、BLランプや白色蛍光灯等の蛍光管20を用いて、光を照射する。光触媒薄膜14が存在すれば、不導体である光触媒薄膜14が導体に変化するので電流が流れる。すなわち、光照射前と後の光触媒薄膜14の導電率の変化を測定することで、光触媒薄膜14の存在が確認できる。このため、迅速にかつ広範囲に渡って、評価対象面の検査できる。
Claim (excerpt)：
光触媒膜に光を照射する工程と、光が照射された光触媒膜の導電率を測定する工程と、を有することを特徴とする光触媒膜の検査方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 27/00 Z
, G01N 27/04 Z
Cited by examiner (7)
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