Pat
J-GLOBAL ID：200903071185130959
パッチテストによるストレス測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
鷹野 みふね
, 鷹野 寧
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003319090
Publication number (International publication number)：2005081019
Application date： Sep. 10, 2003
Publication date： Mar. 31, 2005
Summary：
【課題】 本発明は、被測定者への負担が少なく、しかも短時間で簡易且つ正確にストレスを測定しうる方法を提供することを課題とする。 【解決手段】 起炎物質(塩化ベンザルコニュウム、ラウリル硫酸ナトリウム等の長鎖アルキル硫酸塩、2,4-ジニトロベンゼン、p-フェニレンジアミン、ベンゾカイン、ホルムアルデヒド、アゾ染料など)を皮膚に接触させて皮膚上で起こる炎症を検査するパッチテストを行い、該炎症の程度をICDRGT等の一定の評価基準で定量評価することにより、ストレスを定量的に測定する。 【選択図】 なし
Claim (excerpt)：
起炎物質を皮膚に接触させて皮膚上で起こる炎症を測定するパッチテストを行い、該炎症の程度を定量的に測定することにより、ストレスを定量的に測定することを特徴とする、パッチテストによるストレス測定方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (2)：
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