Pat

J-GLOBAL ID：200903071239247075

ICP発光分光分析装置

Inventor： 岡田 幸治
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993035298
Publication number (International publication number)：1994249783
Application date： Feb. 24, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】 ネブライザによる試料導入系では感度が不足するAs、Se、Sb、Biなどの元素および気体の水素化物に変換できないCd、Fe、Zn、Crなどの元素を、同時に分析できるICP発光分光分析装置を提供する。【構成】 水素化物発生器2で水素化物に変換された試料および超音波ネブライザ3で霧化された試料を、二つの試料導入管を有する四重管構造のプラズマトーチ21に同時に導入して励起発光させて分析するようにしている。

Claim (excerpt)：

液体試料中の元素を還元して水素化物に変換する水素化物発生器と、前記液体試料を霧化するネブライザと、少なくとも二つの試料導入管を有するプラズマトーチとを備え、前記水素化物発生器からの水素化物および前記ネブライザで霧化された試料が、前記プラズマトーチの各試料導入管に個別に導入されることを特徴とするICP発光分光分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平1-143936
  
• ICP発光分光分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-012955   Applicant：セイコー電子工業株式会社