Pat

J-GLOBAL ID：200903071310204129

陽電子寿命測定方法及び装置

Inventor： 斎藤 晴雄 ,  兵頭 俊夫 ,  中條 晃伸
Applicant, Patent owner： 住友重機械工業株式会社 ,  斎藤 晴雄 ,  兵頭 俊夫
Agent (1)： 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002011921
Publication number (International publication number)：2003215251
Application date： Jan. 21, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】 陽電子寿命測定装置の時間分解能を向上して、時間測定の精度を向上すると共に、単位時間当たりの計数率を向上して、測定時間を短縮可能とする。【解決手段】 陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ線を検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を処理して、時間分解能200ps以下で時間スペクトルを得る。

Claim (excerpt)：

陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ線を検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を処理して、時間分解能200ps以下で時間スペクトルを得ることを特徴とする陽電子寿命測定方法。

IPC (3)：

G01T 1/17 ,  G01T 1/172 ,  G01T 1/30

FI (3)：

G01T 1/17 F ,  G01T 1/172 ,  G01T 1/30

F-Term (11)：

2G088EE29 ,  2G088FF07 ,  2G088FF20 ,  2G088GG09 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK02 ,  2G088KK05 ,  2G088KK15 ,  2G088KK24 ,  2G088KK29 ,  2G088LL18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 電子写真用感光体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-325249   Applicant：富士電機画像デバイス株式会社
• 光検出器組立体に関連するイベントの推定位置を決定する装置および方法および該装置および方法のガンマカメラへの応用
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-522240   Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク