Pat
J-GLOBAL ID:200903071331641863

スリット像検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999218685
Publication number (International publication number):2001041821
Application date: Aug. 02, 1999
Publication date: Feb. 16, 2001
Summary:
【要約】【課題】 スリット像の検出精度を向上可能なスリット像検出装置を提供する。【解決手段】 このスリット像検出装置は、第1スリット板2cを通過したスリット像を試料S上に投影するスリット像投影光学系2を備えている。対物レンズ2f後側焦点位置にはテレセントリック系を構成するようにガルバノミラー3aが配置されており、さらに、この焦点位置からみて第1スリット2cと共役な位置には第2スリット板2hが配置されている。したがって、これらは共焦点光学系を構成している。
Claim (excerpt):
第1スリットを通過したスリット像を試料上に投影するスリット像投影光学系と、前記スリット像投影光学系の対物レンズ後側焦点位置に配置されたガルバノミラーと、前記焦点位置からみて前記第1スリットと共役な位置に配置された第2スリットと、前記第2スリットを通過したスリット像を検出する撮像装置とを備えることを特徴とするスリット像検出装置。
IPC (3):
G01J 3/04 ,  G01J 3/30 ,  G01N 21/27
FI (3):
G01J 3/04 ,  G01J 3/30 ,  G01N 21/27 B
F-Term (16):
2G020CA01 ,  2G020CB54 ,  2G020CC04 ,  2G020CC09 ,  2G020CC43 ,  2G020CC55 ,  2G020CD04 ,  2G020CD22 ,  2G020CD52 ,  2G059BB12 ,  2G059BB16 ,  2G059EE07 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page