クロック周波数変調回路を有する電子機器の設計方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：机昌彦 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001348890
Publication number (International publication number)：2003150660
Application date： Nov. 14, 2001
Publication date： May. 23, 2003
Summary：

【要約】【課題】クロック周波数変調回路の設計仕様を決定する段階で装置完成後のEMI規格適合試験におけるクロック周波数変調回路によるEMI抑制効果量の推定値を求めることにより、クロック仕様とEMI抑制効果量の両方を考慮した最適なクロック周波数変調回路の設計仕様を決定しクロック周波数変調回路を適用する装置の開発期間を短縮する。【解決手段】クロック信号の電気的仕様であるクロック仕様53を満足し、且つEMI規格適合試験21におけるEMI抑制効果を推定しEMI効果目標値58を満足するようなクロック周波数変調回路の設計仕様をSSC仕様決定14で決定する。これにより、装置完成後のEMI評価におけるEMI抑制効果の不足による再設計等がなくなり開発期間短縮につながる。

Claim (excerpt)：

クロック周波数変調回路を有する電子機器装置の開発過程において、所定の電磁妨害抑制効果を推定した結果をもとにクロック周波数変調回路の設計仕様を決定することを特徴とする電子機器の設計方法。

IPC (3)：

G06F 17/50 658 , G06F 17/50 , G06F 1/04

FI (3)：

G06F 17/50 658 K , G06F 17/50 658 V , G06F 1/04 A

F-Term (2)：

5B046AA07 , 5B046BA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

シミュレーション装置及び方法並びにプログラム記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-331830 Applicant：富士通株式会社

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