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J-GLOBAL ID：200903071672820022

物理現象または化学現象の測定方法および装置

Inventor： 澤田 和明 ,  冨田 勝彦 ,  中西 剛 ,  田邉 裕貴 ,  三村 享
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997157716
Publication number (International publication number)：1998332423
Application date： May. 29, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：

【要約】【課題】 複数点の情報を同時に取り込み、蓄積、転送などを行うことにより、様々な物理現象または化学現象を容易に画像化できるようにした方法および装置を提供すること。【解決手段】 物理的または化学的な量の大きさに対応して深さを変化するように構成されたポテンシャル井戸6に電荷15を注入して、前記物理的または化学的な量をこのポテンシャル井戸の大きさに応じた電荷に変換するようにした。

Claim (excerpt)：

物理的または化学的な量の大きさに対応して深さを変化するように構成されたポテンシャル井戸に電荷を注入して、前記物理的または化学的な量をこのポテンシャル井戸の大きさに応じた電荷に変換するようにしたことを特徴とする物理現象または化学現象の測定方法。

IPC (8)：

G01D 5/12 ,  G01B 11/00 ,  G01J 5/10 ,  G01N 27/00 ,  G01N 27/414 ,  G01N 27/416 ,  G01R 33/10 ,  H01L 21/66

FI (8)：

G01D 5/12 Z ,  G01B 11/00 Z ,  G01J 5/10 C ,  G01N 27/00 Z ,  G01R 33/10 ,  H01L 21/66 X ,  G01N 27/30 301 X ,  G01N 27/46 353 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特公昭61-020810
  
• 特開平3-232275