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J-GLOBAL ID：200903071687083598

光学部材検査装置および検査方法

Inventor： 中山 利宏 ,  原 正人 ,  杉浦 正之 ,  木田 敦
Applicant, Patent owner： 旭光学工業株式会社
Agent (1)： 松岡 修平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995208398
Publication number (International publication number)：1997033388
Application date： Jul. 24, 1995
Publication date： Feb. 07, 1997
Summary：

【要約】【課題】 有効径の境界ラインの近傍領域に含まれる2値化ノイズや汚れによるノイズを除去するためには、処理装置への負荷が高い複雑な画像処理が必要となり、検査時間が長くなる。【解決手段】 CCDカメラ30により撮影された入力画像中の部品領域は、2値化されて欠陥、ノイズ等が図形として抽出される。良否判定手段47は、図形が設計上の有効径の境界ラインを含む帯状の最外周検出領域ROより内側に位置する場合には、比較的厳しい判定基準を用い、領域RO内に位置する場合にはより緩和された判定基準を用いて図形が欠陥に該当するか否かを判断する。

Claim (excerpt)：

被検物である光学部材を光軸方向から撮影する撮影手段と、撮影された前記光学部材の画像中に、前記光学部材の設計上の有効径を規定する境界ラインを含む帯状の最外周検査領域を含む複数の検査対象領域を設定する領域設定手段と、該領域設定手段により設定された領域毎に異なる判定基準を設定し、前記最外周検査領域には他の検査対象領域における判定基準より緩和された基準を設定する判定基準設定手段と、該判定基準設定手段により設定された判定基準を用いて前記各検査対象領域の欠陥を判定する判定手段とを備えることを特徴とする光学部材検査装置。

IPC (2)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/88

FI (2)：

G01M 11/00 L ,  G01N 21/88 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭61-096439
  
• 特開平4-321186
  
• 特開昭61-096439
  
• 特開平4-321186