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J-GLOBAL ID：200903071861332187

濃度計

Inventor： 山口 征治 ,  長尾 均
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992281884
Publication number (International publication number)：1994129998
Application date： Oct. 20, 1992
Publication date： May. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】 この発明は、懸濁物質の付着や流体中の気泡の影響を受けることなく、また被測定流体中に溶解する物質でも、長期的に高い信頼性をもって濃度を測定でき、高濃度流体,大口径の管体でも正確に濃度を測定することにある。【構成】 検出部管体25にマイクロ波送受信器31,32 を対向配置し、この送信器から検出部管体内の被測定流体を通って受信器にて受信されるマイクロ波の位相遅れθ2 と、検出部管体内の基準流体を通って受信器にて受信されるマイクロ波の位相遅れθ1 とを用いて位相差測定手段35で位相差△θ=θ2 -θ1 を求め、この位相差から前記被測定流体の濃度を測定する濃度計において、前記位相差測定手段の前段に、予め基準流体を用いたときのマイクロ波の位相遅れθ1 が0°に近い値または-180°〜+180°の測定の場合には-180°に近い値に調整設定する位相シフト手段36を設けた濃度計である。

Claim (excerpt)：

検出部容器を含む検出部管体にマイクロ波送信器およびマイクロ波受信器を対向配置するとともに、このマイクロ波送信器から前記検出部管体内の被測定流体を通って前記受信器にて受信されるマイクロ波の位相遅れθ2と、前記検出部管体内の基準流体を通って前記受信器にて受信されるマイクロ波の位相遅れθ1 とを用いて位相差測定手段で位相差△θ=θ2 -θ1 を求め、この位相差から前記被測定流体の濃度を測定する濃度計において、前記位相差測定手段の前段に、予め前記基準流体を用いたときのマイクロ波の位相遅れθ1 が0°を含む0°に近い値または-180°〜+180°の測定の場合には-180°を含む-180°に近い値に調整設定する位相シフト手段を設けたことを特徴とする濃度計。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-238246
  
• 特開昭59-102146
  
• 特開昭59-019846