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J-GLOBAL ID：200903071893870229

寸法表示可能な電子スチルカメラシステム

Inventor： 渡辺 正司
Applicant, Patent owner： 京セラ株式会社
Agent (1)： 井ノ口 壽
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991225028
Publication number (International publication number)：1993045124
Application date： Aug. 09, 1991
Publication date： Feb. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 寸法表示ができる電子スチルカメラシステムにおいて、被測定点の位置の合焦を輝点で確認し、その合焦点の寸法算出するための情報を記憶できるように構成することにより寸法表示のための撮影をより円滑にする。【構成】 寸法測定位置可変素子45により測定位置を選択するとその選択した位置に合焦するとともに輝点が表示される。被測定点を2つ選択した後、第2のレリーズボタンを押すことにより被測定点の間の寸法およびその区間を示すスケールのデータを算出しメモリ回路に記憶する。第1のレリーズボタンを押すことにより2つの被測定点の間に合焦して被写体像およびスケール等のデータのパターンをビデオフロッピー24に記録する。

Claim (excerpt)：

同一視野内に捕らえられる被写体の2つの被測定点の位置情報およびその位置の合焦時のズーム情報および距離情報を得、前記情報を所定の演算式に代入して演算することにより前記2つの測定点間の寸法およびその区間を示すスケールのデータを算出し、前記寸法およびスケールのデータをスケールパターンジェネレータに送出して寸法を表す数値,単位およびスケールのパターンを出力させることにより、撮影中または撮影した画面を再生する場合、前記寸法を表す数値,単位およびスケールのパターンを被写体画面と同時に表示できる電子スチルカメラシステムであって、寸法測定位置可変素子を設け、撮像系より取り入れた画像に対し、前記寸法測定位置可変素子が操作された場合、その操作量に応じて測定位置を移動させその測定位置に焦点距離が合うように焦点調節用レンズを制御するとともにその測定点に輝点を表示させ、輝点表示された被測定点をメモリ回路に記憶することにより前記被測定点を選択することを特徴とする寸法表示可能な電子スチルカメラシステム。

IPC (5)：

G01B 11/02 ,  G02B 7/28 ,  H04N 5/225 ,  H04N 5/232 ,  G03B 17/18