Pat
J-GLOBAL ID：200903071915752390
画像処理装置および記録媒体
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
吉田 稔
, 田中 達也
, 福元 義和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003013511
Publication number (International publication number)：2004226202
Application date： Jan. 22, 2003
Publication date： Aug. 12, 2004
Summary：
【課題】X線CTスキャナ装置による断面画像から高精度で輪郭形状を抽出することのできる画像処理装置を提供する。【解決手段】画像処理装置1は、断面画像を構成する全画素を、画素分類部3で空間部分を撮影した画素と試料の断面部分を撮影した画素とに分類し、さらに領域分類部4で複数の空間領域および試料の断面領域のいずれに属する画素であるかを分類する。その後、平均CT値演算部5各領域毎に当該領域に含まれる画素群の平均CT値を算出し、閾値演算部6で空間領域と試料の断面領域との境界部分に存在する輪郭点を抽出するための最も適した閾値を当該空間領域の平均CT値と当該試料の断面領域の平均CT値とに基づいて設定する。断面形状の輪郭を構成する点を抽出するための適切な閾値を、試料断面の肉厚量や空気層の厚みを加味して設定することにより輪郭点の抽出位置の精度を高めるようにした。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
X線CTスキャナ装置によって取得される複数個の画素のCT値によって構成される試料の断面画像から当該断面画像内の予め設定された所定の閾値と同一のCT値を有する点を上記試料の断面形状を構成する点として抽出する画像処理装置において、
上記各画素のCT値と予め設定された仮の閾値とを比較し、上記CT値が仮の閾値よりも小さい画素を上記断面画像の空間部分に含まれる画素とし、上記CT値が仮の閾値以上の画素を上記断面画像の試料の断面部分に含まれる画素として分類する第1の分類手段と、
上記断面画像の空間部分に含まれる複数の画素を互いに隣接する画素同士を同一領域の画素として1または2以上の空間領域の画素群に分類するとともに、上記断面画像の試料の断面部分に含まれる複数の画素を互いに隣接する画素同士を同一領域の画素として1または2以上の試料断面領域の画素群に分類する第2の分類手段と、
上記第2の分類手段により分類された空間領域および試料断面領域について、それぞれ各領域に含まれる画素のCT値の平均値を演算する演算手段と、
上記第2の分類手段により分類された空間領域と試料断面領域との境界部分に存在する上記試料の断面形状を構成する点を抽出するための上記所定の閾値を、当該空間領域の平均CT値と当該試料断面領域の平均CT値とに基づいて設定する閾値設定手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (9)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001HA08
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001JA08
, 2G001MA06
, 2G001PA12
