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J-GLOBAL ID：200903071976274156

画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法

Inventor： 池澤 和哉 ,  佐々野 祐一
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 藤田 考晴 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001002543
Publication number (International publication number)：2002207998
Application date： Jan. 10, 2001
Publication date： Jul. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 デジタルカメラを用いた写真測量による表面形状の測定を行う前処理に有用な画像処理装置を提供する。【解決手段】 複数のターゲットが位置する被測定物に対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる画像を選択する画像選択処理部100と、該寸法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するターゲット位置検出処理部110と、該寸法計測に用いる画像の一方における所定距離のターゲットの組に対応する、他方の画像における対応ターゲットの組の候補を抽出する対応候補抽出処理部120と、該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組と最も良く一致する対応ターゲットの組を選定する評価値計算処理部130と、該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組と同一の名称を付する名称付け処理部140とを備えている。

Claim (excerpt)：

複数のターゲットが位置する被測定物に対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる画像を選択する画像選択処理部と、該寸法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するターゲット位置検出処理部と、該寸法計測に用いる画像の一方における所定距離のターゲットの組に対応する、他方の画像における対応ターゲットの組の候補を抽出する対応候補抽出処理部と、該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組と最も良く一致する対応ターゲットの組を選定する評価値計算処理部と、該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組と同一の名称を付する名称付け処理部と、を備えることを特徴とする画像処理装置。

IPC (2)：

G06T 1/00 315 ,  G01B 11/02

FI (2)：

G06T 1/00 315 ,  G01B 11/02 H

F-Term (27)：

2F065AA21 ,  2F065AA51 ,  2F065CC08 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF26 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS13 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09