Pat
J-GLOBAL ID：200903071988721280
計測タイミング補正方法、計測タイミング補正装置および自動外観検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
▲高▼橋 克彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994067702
Publication number (International publication number)：1995248214
Application date： Mar. 10, 1994
Publication date： Sep. 26, 1995
Summary：
【要約】【目的】 2値化画像による自動外観測定における移動する計測対象の外観判定の計測タイミングを求め、外観判定を実現すること。【構成】 複数の計測開始予定点を設定し、設定された各計測開始予定点に基づきコンベアを流れてくる複数の計測対象をCCDカメラ3によって計測し、画像処理装置4によって撮像画像を2値化画像に変換し、前記複数の計測対象の特徴量を演算して、前記各計測開始予定点毎の前記複数の計測対象の特徴量の一元配置による分散分析を行い、一定の信頼推定値以上の前記計測開始予定点を計測開始スイッチをセットする計測開始点に決定する計測タイミング補正方法および装置。前記決定された計測開始点にリミットスイッチを配設して、計測した2値化画像の特徴量と実験的に求めた基準値との適合度を判定して外観が類似する計測対象物7の判定を行う自動外観検査装置。
Claim (excerpt)：
複数の計測開始予定点を設定する設定工程と、設定された各計測開始予定点に基づきコンベアを流れてくる複数の計測対象をカメラによって計測する計測工程と、前記カメラによって計測された前記複数の計測対象の撮像画像を2値化画像に変換する変換工程と、変換された2値化画像から前記複数の計測対象の特徴量を演算する特徴量演算工程と、前記求めた前記各計測開始予定点毎の前記複数の計測対象の特徴量の一元配置による分散分析を行う分散分析工程と、前記一元配置による分散分析の結果一定の信頼推定値以上の前記計測開始予定点を計測開始スイッチをセットする計測開始点に決定する計測開始点決定工程とから成り、コンベアによって連続して流れてくる類似する計測対象の特徴量による判別を可能にすることを特徴とする計測タイミング補正方法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
