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J-GLOBAL ID：200903072065277111

液晶セルパラメータ検出装置

Inventor：
本間道則

About 本間道則

, 
佐藤 進

About 佐藤 進


Applicant, Patent owner：
佐藤 進

About 佐藤 進


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000216363
Publication number (International publication number)：2001159751
Application date： Jul. 17, 2000
Publication date： Jun. 12, 2001
Summary：
【要約】【課題】 簡単な構成で、液晶セルにおける液晶層の厚み及び液晶分子配向のねじれの角度等のパラメータを迅速に検出することができる装置を提供する。【解決手段】 光源1の光を同心円もしくは放射状の偏光変換機能を有する偏光変換素子2、液晶セル3、偏光変換素子4を透過させ、光検出器5で液晶セル3の複数箇所の透過光強度を測定し、各波長の光に対する透過光強度の2次元分布T(x,y)を求め、T(x,y)が極小値あるいは極大値を示す座標(x,y)を測定する。測定した座標から偏光変換素子2,4の組合せにより生成される座標x、yに依存する実効的な偏光方向の角度β(x,y)及びα(x,y)の値を求め、求めたβ(x,y)及びα(x,y)の値から液晶層の厚みd及び液晶分子配向のねじれの角度φ等のパラメータを求める。
Claim (excerpt)：
直線偏光と直線偏光が同心円もしくは放射状に分布した状態の間の偏光変換機能を有する2個の偏光変換素子をその中心をずらして配置し、前記偏光変換素子の間に液晶セルを挿入し、液晶セルを透過した光の透過光強度をそれぞれ複数箇所で検出し、透過光の強度が極値をとる座標を求め、求めた座標に基づいて液晶層の厚み及び液晶分子配向のねじれの角度の少なくとも一方を求めることを特徴とする液晶セルパラメータ検出装置。
IPC (3)：
G02F 1/13 101 ,  G01B 11/02 ,  G01B 11/26
FI (3)：
G02F 1/13 101 ,  G01B 11/02 Z ,  G01B 11/26 Z
F-Term (26)：
2F065AA43 ,  2F065BB02 ,  2F065BB22 ,  2F065BB23 ,  2F065CC21 ,  2F065FF42 ,  2F065GG02 ,  2F065HH09 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL22 ,  2F065LL32 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ29 ,  2H088FA02 ,  2H088FA11 ,  2H088HA03 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088JA05 ,  2H088JA13 ,  2H088KA02 ,  2H088KA11 ,  2H088KA16 ,  2H088MA20
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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