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J-GLOBAL ID：200903072069021782

3次元物体の形状計測方法及び装置

Inventor： 近藤 俊明 ,  飯島 克己 ,  矢野 光太郎 ,  倉橋 直 ,  石川 基博 ,  真継 優和
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995198323
Publication number (International publication number)：1997042940
Application date： Aug. 03, 1995
Publication date： Feb. 14, 1997
Summary：

【要約】【課題】 被計測体の3次元物体の形状を高精度に計測する。【解決手段】 左右の撮像装置70、80によりまず被計測体のみを撮像してその画像データをメモリ90、100に保持し、次にパターン投影器20により2次元パターン10を被計測体に投影した状態で撮像し、その画像データからメモリ90、100に保持した画像データを加算器110、120で減算して2次元パターン10のみの画像データを求め、これに基づいて形状演算部50はパターン投影法による形状演算を行う。この演算結果を利用して形状演算部130はメモリ90、100に保持した画像データから両眼立体視法による形状演算を行う。

Claim (excerpt)：

2次元パターンを投影された被計測体を複数の異る視点から撮像して得られる画像データを用いて上記被計測体の形状計測を行う第1の計測工程と、上記2次元パターンを投影しないときと投影したときにおいてそれぞれ上記複数の視点から上記被計測体を撮像して得られる画像データを用いて上記被計測体の形状計測を行う第2の計測工程とを有する3次元物体の形状計測方法。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00 ,  H04N 13/00

FI (5)：

G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 C ,  G01C 3/06 V ,  H04N 13/00 ,  G06F 15/62 415