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J-GLOBAL ID：200903072074247896

メタン細菌の検出及び測定方法

Inventor： 中村 剛
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000150109
Publication number (International publication number)：2001327290
Application date： May. 22, 2000
Publication date： Nov. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】本発明は、各種メタン細菌を迅速、特異的、且つ簡便に検出し、測定する方法を提供する。【解決手段】上記課題を提供するために、本発明は、各種メタン細菌に特異的な16SrRNA領域をコードするDNAを用いて、各種メタン細菌を検出し、測定する方法を提供する。

Claim (excerpt)：

以下の群:配列番号1のポリヌクレオチド、配列番号2のポリヌクレオチド、配列番号3のポリヌクレオチド、配列番号4のポリヌクレオチドから選択されるポリヌクレオチドのプライマーとしての使用。

IPC (4)：

C12N 15/09 ZNA ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/569 ,  C12R 1:01

FI (4)：

C12Q 1/68 A ,  G01N 33/569 F ,  C12R 1:01 ,  C12N 15/00 ZNA A

F-Term (16)：

4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024CA11 ,  4B024HA14 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ06 ,  4B063QQ18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ54 ,  4B063QR31 ,  4B063QR56 ,  4B063QR62 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34