Pat
J-GLOBAL ID:200903072075304761
例示的な乳房組織についての体組織の特徴付けにおけるコンプトン散乱の利用、又はXRF(X線蛍光)及びEDXRD(エネルギ分散型X線回折)の組み合わせの利用
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006543624
Publication number (International publication number):2007513667
Application date: Dec. 13, 2004
Publication date: May. 31, 2007
Summary:
本発明は、体組織を解析する方法を記載しており、上記方法は、XRF、すなわち、体組織試料の第1の測定組織特性を表すデータを得る工程と、EDXRD、すなわち、組織試料の第2の別の組織特性を表すデータを得る工程と、データを組み合わせて用いて組織試料の解析を備える工程とから成る。体組織を正常又は異常として特徴付ける方法も記載している。本発明は、貫通放射ビームが入射する体組織試料から測定されたコンプトン散乱データを取得し、このデータを用いて組織試料の解析及び/又は特徴付けを備えることによって体組織の解析及び/又は特徴付けを行う方法も記載している。
Claim (excerpt):
体組織を解析する方法であって、少なくとも2つのデータ成分を得る工程を備え、体組織試料の第1の測定組織特性を表すデータが得られ、前記組織試料の第2の別の測定組織特性を表すデータが得られ、前記それぞれのデータを組み合わせて用いて前記組織試料の解析を備えることを特徴とする方法。
IPC (6):
A61B 10/00
, A61B 6/00
, G01N 23/20
, G01N 23/201
, G01N 23/223
, G01N 23/203
FI (7):
A61B10/00 T
, A61B6/00 330Z
, G01N23/20
, G01N23/201
, G01N23/223
, G01N23/203
, A61B10/00 N
F-Term (13):
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001BA14
, 2G001FA01
, 2G001GA01
, 2G001KA01
, 2G001LA01
, 2G001NA09
, 2G001NA13
, 2G001NA17
, 4C093AA07
, 4C093CA50
, 4C093DA06
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