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J-GLOBAL ID：200903072100061364
光蓄積型レーザーイオン化質量分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
大塚 忠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004257696
Publication number (International publication number)：2006073437
Application date： Sep. 03, 2004
Publication date： Mar. 16, 2006
Summary：
【課題】 キャリヤガスに含まれる極微量の物質を効率よく同定・定量できる超音速ジェット多光子共鳴イオン化による分析装置を提供する。【解決手段】 レーザーイオン化質量分析装置は、サンプル分子を含んだキャリヤガスを真空室17内へパルス的に噴射する12と、噴射されたキャリヤガス中のサンプル分子を選択的に光反応させるためのレーザー光照射システムと、光反応によって生成されたサンプル分子イオンを引き出す電場を形成するリペラー電極18及び引き出し電極19と、引き出されたサンプル分子イオンを質量分析する質量分析装置26とを有する。レーザー光照射システムは、パルスガス噴射装置12から噴射されて真空室17を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定される。 【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
サンプル分子を含んだキャリヤガスを真空室内へパルス的に噴射するパルスガス噴射装置と、真空室内に噴射されたキャリヤガス中のサンプル分子を選択的に光反応させるためのレーザー光を照射するレーザー光照射システムと、前記光反応によって生成されたサンプル分子イオンを引き出すための電場を形成するリペラー電極及び引き出し電極と、このリペラー電極及び引き出し電極によって引き出されたサンプル分子イオンを質量分析する質量分析装置とを有するレーザーイオン化質量分析装置において、
前記レーザー光照射システムは、前記パルスガス噴射装置から噴射されて前記真空室を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定されることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置。
IPC (5)：
H01J 49/10
, G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/04
, H01J 49/40
H01J49/10
, G01N27/62 V
, G01N27/64 B
, H01J49/04
, H01J49/40
5C038EE01
, 5C038EF03
, 5C038EF12
, 5C038EF25
, 5C038EF26
, 5C038GG07
, 5C038GH04
, 5C038GH08
, 5C038GH10
, 5C038GH11
, 5C038GH13
Cited by applicant (1)
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キャリヤ-ガス中のサンプル分子の検出方法と装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-305939
Applicant：ドイチェフォルシュングスアンシュタルトフュアルフト-ウントラウムファールトエー.ファウ.
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent：
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