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J-GLOBAL ID：200903072206596984

マイクロ接合強度評価試験治具

Inventor： 井門 修 ,  伊東 伸孝 ,  長竹 真美
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002273594
Publication number (International publication number)：2003177088
Application date： Feb. 10, 1998
Publication date： Jun. 27, 2003
Summary：

【要約】【課題】本発明は電子部品のはんだ接合部やプリント回路基板上に形成された導体パターン接着部などのマイクロ接合および接着部の強度を試験するための治具に関し、微細な試験片に対して汎用されている引張試験装置を用いて試験を行ないうるようにすることを課題とする。【解決手段】汎用引張試験装置5に装着され、試験片10に対し接合強度評価試験を行なう際に用いるマイクロ接合強度評価試験治具において、前記汎用引張試験装置5の上部取り付けフランジ3に接続される爪21Aを有すると共に、前記試験片10の上部を把持する上ハンド25Xを具備した治具上部半体50Aと、前記汎用引張試験装置10の下部取り付けフランジ4に接続されると共に、前記試験片10の下部を把持する下ハンド24Xを具備した治具下部半体50Bとを具備する。

Claim (excerpt)：

汎用引張試験装置に装着され、試験片に対し接合強度評価試験を行なう際に用いるマイクロ接合強度評価試験治具において、前記汎用引張試験装置の上部取り付けフランジに接続される爪を有すると共に、前記試験片の上部を把持する上ハンドを具備した治具上部半体と、前記汎用引張試験装置の下部取り付けフランジに接続されると共に、前記試験片の下部を把持する下ハンドを具備した治具下部半体とを具備することを特徴とするマイクロ接合強度評価用治具。

IPC (5)：

G01N 19/04 ,  G01N 3/00 ,  G01N 3/04 ,  H01L 21/60 321 ,  H05K 3/00

FI (5)：

G01N 19/04 D ,  G01N 3/00 Q ,  G01N 3/04 P ,  H01L 21/60 321 Y ,  H05K 3/00 V

F-Term (12)：

2G061AA01 ,  2G061AA11 ,  2G061AB01 ,  2G061AB03 ,  2G061BA01 ,  2G061CB16 ,  2G061CB18 ,  2G061DA16 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  5F044LL01 ,  5F044RR00