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J-GLOBAL ID：200903072219052770

光スペクトラム測定装置

Inventor： 待鳥 誠範 ,  衣川 茂
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社
Agent (1)： 小池 龍太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994261427
Publication number (International publication number)：1996101066
Application date： Sep. 30, 1994
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】測定帯域がある程度あって、しかも、測定分解能が高く周波数確度も高い光スペクトラム測定装置を提供する。【構成】光周波数コム信号発生器2は周波数安定化光源1からの光とマイクロ波発振器3からのマイクロ波とを受けて、コム信号光を発生する。該コム信号光は合波器4で被測定光と合波され、この合波された光は受光器5で電気信号に変換される。この電気信号をRFスペクトラムアナライザ6で測定することで被測定光のスペクトラムが測定できる。

Claim (excerpt)：

周波数安定化光源(1)と、マイクロ波発振器(3)と、前記周波数安定化光源からの光と前記マイクロ波発振器からのマイクロ波とを受けて、該マイクロ波の周波数に応じたコム信号光を発生する光周波数コム信号発生器(2)と、該コム信号光と被測定光とを合波する合波器(4)と、該合波器で合波された光を受けて光電変換する受光器(5)と、前記受光器の出力信号を受けて、該出力信号のスペクトラムを測定する測定手段(6)とを備えた光スペクトラム測定装置。

IPC (2)：

G01J 3/28 ,  G01J 9/02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平4-214690
  
• 周波数安定化光源
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-309596   Applicant：アンリツ株式会社