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J-GLOBAL ID:200903072224995268

ワイヤロープの診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐々木 宗治 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998129233
Publication number (International publication number):1999325841
Application date: May. 12, 1998
Publication date: Nov. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 ワイヤロープの全長に亘って素線切れ、摩耗、形くずれ状態を簡便に診断でき、かつ断線に至る前のワイヤロープの素線の断線状態や摩耗・形くずれ状態を同時に診断できるようにしたこと。【解決手段】 ワイヤロープ4に対峙した投光器6と、ワイヤロープを間にして投光器6と対峙する受光器7と、受光器7の測定した受光量を周波数分析して求めた周波数スペクトルをワイヤロープの素線切れ、摩耗・形くずれ、伸びをそれぞれ表す周数数基準値と比較してワイヤロープの素線切れ、摩耗・形くずれ、伸びを診断処理する信号処理回路8と、信号処理装置8が診断処理した処理結果を表示する結果表示回路9とを備えてなるものである。
Claim (excerpt):
ワイヤロープに対峙した投光器と、ワイヤロープを間にして投光器と対峙する受光器と、受光器の測定した受光量を周波数分析して求めた周波数スペクトルをワイヤロープの素線切れ、摩耗・形くずれ、伸びをそれぞれ表す周数数基準値と比較してワイヤロープの素線切れ、摩耗・形くずれ、伸びを診断処理する信号処理手段と、信号処理手段が診断処理した処理結果を表示する結果表示手段とを備えたことを特徴とするワイヤロープの診断装置。
IPC (4):
G01B 11/08 ,  G01B 11/24 ,  G01B 21/00 ,  G01N 21/89
FI (4):
G01B 11/08 Z ,  G01B 11/24 A ,  G01B 21/00 W ,  G01N 21/89 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 金属線条体の形状不良検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-320328   Applicant:ブリヂストンメタルファ株式会社
  • 特開昭63-219635
  • 特開昭63-219635

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