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J-GLOBAL ID：200903072242428540

メモリの自己検査回路及び方法

Inventor： オットー・トルライテル ,  ローランド・メッツゲル ,  ディーテル・ヴェンデル
Applicant, Patent owner： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
Agent (1)： 合田 潔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995316990
Publication number (International publication number)：1996241254
Application date： Dec. 05, 1995
Publication date： Sep. 17, 1996
Summary：

【要約】【課題】 メモリの検査、特にマイクロコンピュータ内のメモリの検査を可能とする方法及び装置を提供する【解決手段】 メモリへ接続される自己検査回路がメモリの内容からシグネチャを発生して、そのシグネチャと参照値とを比較して比較結果を「合格」又は「不合格」の一般的標識として出力する。不合格であればメモリへのアクセスが制限され及び/又は故障処理が開始され、合格であればメモリへのアクセスが許可される。

Claim (excerpt)：

メモリへ接続される自己検査回路において、前記自己検査回路により発生可能な一般的標識を有し、該一般的標識は、前記メモリ内の所望の又は所望しない操作又は変更を示しかつ前記メモリの内容又はその一部が前記一般的標識から導出不能である自己検査回路。

IPC (3)：

G06F 12/16 330 ,  G06F 12/14 320 ,  G06F 15/78 510

FI (3)：

G06F 12/16 330 C ,  G06F 12/14 320 A ,  G06F 15/78 510 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭60-086641
  
• 障害監視回路
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-314364   Applicant：日本電気株式会社
• 特開昭62-290987
  
• 特開平3-070056