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J-GLOBAL ID:200903072363930057

透明導電膜およびその製造方法並びにその用途

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岸田 正行 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001294138
Publication number (International publication number):2003100154
Application date: Sep. 26, 2001
Publication date: Apr. 04, 2003
Summary:
【要約】【課題】 有機ELパネルに好適な、膜表面が平坦で抵抗率が低く、仕事関数の大きな透明導電膜を提供し、また、この透明導電膜を成膜するに際して有用なスパッタリングターゲットを提供する。【解決手段】 抵抗率が250μΩ・cm以下、表面凹凸の最大高低差(Z-max)/膜厚(t)が10%以下で仕事関数が4.9eV以上の特性を有する透明導電膜であり、このような透明導電膜は、実質的にIn,Sn,Ge,Gaおよび酸素からなる焼結体であって、GeとGaの含有量の和(Ge/(In+Sn+Ge)の原子比)+(Ga/(In+Sn+Ga)の原子比)が1〜6%以下であるスパッタリングターゲットをスパッタすることにより得られる。
Claim (excerpt):
抵抗率が250μΩ・cm以下、かつ表面凹凸の最大高低差(Z-max)/膜厚(t)が10%以下、かつ仕事関数が4.9eV以上の特性を有することを特徴とする透明導電膜。
IPC (9):
H01B 5/14 ,  B32B 7/02 104 ,  B32B 9/00 ,  C04B 35/457 ,  C23C 14/08 ,  C23C 14/34 ,  H01B 13/00 503 ,  H05B 33/14 ,  H05B 33/28
FI (9):
H01B 5/14 A ,  B32B 7/02 104 ,  B32B 9/00 A ,  C23C 14/08 D ,  C23C 14/34 A ,  H01B 13/00 503 B ,  H05B 33/14 A ,  H05B 33/28 ,  C04B 35/00 R
F-Term (49):
3K007AB00 ,  3K007AB05 ,  3K007AB17 ,  3K007CA01 ,  3K007CB01 ,  3K007DA00 ,  3K007DB03 ,  3K007EB00 ,  3K007FA01 ,  3K007FA03 ,  4F100AA17B ,  4F100AA26B ,  4F100AA28B ,  4F100AG00A ,  4F100AR00B ,  4F100AT00A ,  4F100BA02 ,  4F100BA07 ,  4F100DD01B ,  4F100EH662 ,  4F100GB41 ,  4F100JG01 ,  4F100JG01B ,  4F100JG04 ,  4F100JG04B ,  4F100JN01 ,  4F100YY00B ,  4G030AA34 ,  4G030AA39 ,  4G030BA02 ,  4G030BA14 ,  4G030BA15 ,  4G030BA16 ,  4G030GA09 ,  4K029BA45 ,  4K029BA50 ,  4K029BC09 ,  4K029BD00 ,  4K029CA05 ,  4K029DC05 ,  4K029DC09 ,  4K029DC34 ,  4K029DC35 ,  5G307FA00 ,  5G307FA01 ,  5G307FB01 ,  5G307FC10 ,  5G323BA02 ,  5G323BB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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