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J-GLOBAL ID:200903072371016305

分光分析方法および分光分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 有我 軍一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997117354
Publication number (International publication number):1998054761
Application date: May. 08, 1997
Publication date: Feb. 24, 1998
Summary:
【要約】【課題】 サンプル物質を反射あるいは透過のいずれかを単一のプローブを使って測定する分光分析方法および分光分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】 まず、光源10から出力される赤外線光11は、光ファイバー束14によってプローブ18に導かれる。互いに移動可能な窓部34および鏡36により、サンプルエリア38の長さwが調節されるため、物質の化学的性質および物理的性質が完全に変化したときであっても、透過あるいは反射測定による信頼性の高い測定が行われる。赤外線光がサンプルエリア38内のサンプル物質22に照射されると、その透過光または反射光は、光ファイバー束24に集光されて、回折格子70、さらには検出器72に導かれる。検出器72は検出した光の大きさに基づく信号を出力し、分析装置内でプロトコルに従って信号が分析される。
Claim (excerpt):
長さが調節可能な通路が形成された透過測定用のプローブおよび分析装置を備えた近赤外線分光器を使って、粘性および光学濃度が変化する物質を周期的に調べる分光分析方法であって、前記プローブを前記物質に浸すステップと、前記プローブの通路長を第1の位置に設定するステップと、前記第1の位置で前記物質に対して第1の走査を行うステップと、前記第1の位置に対応する情報を前記分析装置に入力するステップと、前記分析装置が予め定められた第1のプロトコルに従って前記第1の走査を分析するステップと、前記プローブの通路長を第2の位置に設定するステップと、前記第2の位置で前記物質に対して第2の走査を行うステップと、前記第2の位置に対応する情報を前記分析装置に入力するステップと、前記分析装置が予め定められた第2のプロトコルに従って前記第2の走査を分析するステップと、を有し、前記プローブは前記第1の位置または前記第2の位置のどちらか一方で通路長を最大に設定するとともに、前記第1のプロトコルまたは前記第2のプロトコルのどちらか一方は、反射率の測定値から求められる複数の定数に基づいてプログラムされたアルゴリズムを用いていることを特徴とする分光分析方法。
IPC (3):
G01J 3/42 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/59
FI (3):
G01J 3/42 U ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/59 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭53-116187

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