Pat
J-GLOBAL ID：200903072380949411
光学素子およびその光学検査方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
前島 肇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997072650
Publication number (International publication number)：1998253827
Application date： Mar. 10, 1997
Publication date： Sep. 25, 1998
Summary：
【要約】【課題】 剥離フィルムおよび/または保護フィルムを積層したままの状態で製造工程中の検査が可能な光学素子およびその検査方法を提供する。【解決手段】 光学補償板3、偏光板などとともに、実質的に光学的等方性のポリオレフィンからなる剥離フィルムおよび/または保護フィルム5、2を用いることを特徴とする光学素子1a、およびこれらのフィルムを剥離せずに光学素子を光学的に検査することを特徴とする光学検査方法。
Claim (excerpt)：
実質的に光学的等方性を示すポリオレフィンフィルムを剥離フィルムおよび/または保護フィルムとして用いたことを特徴とする光学素子。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
