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J-GLOBAL ID:200903072419027096

ワークの位置計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994050821
Publication number (International publication number):1995260428
Application date: Mar. 22, 1994
Publication date: Oct. 13, 1995
Summary:
【要約】【目的】 孔部といった暗く写るワークの計測対象部の空間座標系における中心位置を単一のカメラで計測できるようにする。【構成】 スポット光源2によりワークAを照射してカメラ1によりワークを撮像すると共に、スリット光源3からスリット光をその光面がカメラ1の光軸(Z軸)に斜交するように照射してワークを撮像する。スリット光の照射時に撮像されたスリット光像の画面上の位置からワークAのZ軸方向の変位量を計測する。スポット光の照射時に撮像された計測対象部Bの像の画面上の中心座標を計測し、この中心座標と前記変位量とから計測対象部Bの空間座標系における中心位置を求める。
Claim (excerpt):
ワークを撮像したときに暗く写るワークの計測対象部の中心位置を光学的に計測するワークの位置計測方法であって、ワークにスポット光を照射した状態で撮像手段によりワークを撮像する工程と、前記撮像手段の光軸に斜交する面に沿ったスリット光をワークに照射した状態で当該撮像手段によりワークを撮像する工程と、スポット光の照射時に撮像手段の画面に暗部として現われる前記計測対象部の像の画面上の中心座標を計測する工程と、スリット光の照射時に撮像手段の画面に明部として現われるスリット光像の画面上の位置から撮像手段の光軸方向におけるワークの変位量を求める工程と、前記変位量と前記中心座標とから空間座標系における計測対象部の中心位置を求める工程と、から成ることを特徴とするワークの位置計測方法。

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