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J-GLOBAL ID：200903072428396118
故障診断装置の開発支援システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992169747
Publication number (International publication number)：1994011422
Application date： Jun. 29, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：
【要約】【目的】 故障解析プログラムを自動作成する故障診断装置の開発支援システムを提供する。【構成】 電気装置4の測定点の測定を行う複数のセンサ、ICカードリーダ・ライタ23を備えた診断装置21と、測定点の基準値データと、電気装置4に模擬故障を発生させ、診断装置21のセンサより入力した測定点のデータとを比較して、データの異なる異常点を抽出し、この異常点から故障原因を誘導して診断プログラムを作成し、ライタ23によりICカード22に書込む開発支援装置1を備えて構成する。【効果】 開発支援装置1により故障解析プログラムが自動作成され、さらにICカード22に書込まれることによって、コンピュータの専門家が必要でなくなり、現場の作業員により、容易に診断装置に必要なICカード22を作成でき、また時間と手間を削減でき、作業性を向上することができる。
Claim (excerpt)：
電気-機械系装置の測定点において所要の測定を行う複数のセンサと、前記センサを順に駆動して検出した測定点の基準値データと、前記電気-機械系装置に模擬故障を発生させ、前記センサを順に駆動して検出した測定点のデータを入力し、これらデータを比較して、データの異なる異常点を抽出し、これらから同一の異常点をグループ化し、この異常点から故障原因を誘導し、前記電気-機械系装置の診断プログラムを作成する支援装置とを備えた故障診断装置の開発支援システム。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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