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J-GLOBAL ID：200903072470448110
路面のひび割れ長さの測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
森崎 俊明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993200437
Publication number (International publication number)：1995035532
Application date： Jul. 20, 1993
Publication date： Feb. 07, 1995
Summary：
【要約】【目的】 路面のひび割れを表す2値画像から、ひび割れを辿ることなく、短い処理時間でひび割れの長さを求めること。【構成】 中心画素が1(路面のひび割れ部分を表す)である2値のN×N画素(Nは3以上の奇数)が取り得る画素配列パターンを予め求めると共に、夫々の画素配列パターンの中心画素がひび割れ長さに寄与する係数を予め求めておく。次に、路面を撮影したアナログ画像に画像処理を施して2値画像を求め、この2値画像中に単位面積を特定し、路面のひび割れ部分を表す画素を中心とするN×N画素を順次抽出し、予め求めた複数の画素配列パターンと比較して一致するパターンのひび割れ長さの係数を求めて加算する。
Claim (excerpt)：
路面を撮影して路面のアナログ画像を求め、該アナログ画像に画像処理を施してひび割れの有無を表す2値画像を求め、該2値画像から路面の単位面積当たりのひび割れ長さを求める方法に関し、(a)中心画素がひび割れを表す2値のN×N画素(Nは3以上の奇数)が取り得る複数個の画素配列パターンを予め求め、該複数個の画素配列パターンの夫々に関して前記ひび割れを表す中心画素が寄与するひび割れの長さの係数を予め求め、(b)上記ひび割れを表す2値画像に単位面積を設定し、(c)該単位面積中の画素の内からひび割れを表す画素を中心としてN×N画素を抽出し、(d)抽出したN×N画素の画素配列パターンを、上記予め求めた複数個の画素配列パターンと比較して同一の画素配列パターンを求め、該画素配列パターンに与えられたひび割れ長さの係数を求め、(e)上記ステップ(c)乃至(d)を上記単位面積中の各画素について繰り返して夫々求めた係数を加算し、求めた係数の合計を基にして上記単位面積中のひび割れ長さを測定することを特徴とする路面のひび割れ長さの測定方法。
IPC (3)：
G01B 11/30
, G01N 21/88
, G06T 1/00
Cited by examiner (8)
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