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J-GLOBAL ID：200903072513263577

光安定性試験装置

Inventor： 大和田 樹志
Applicant, Patent owner： ウシオ電機株式会社
Agent (1)： 田原 寅之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996034248
Publication number (International publication number)：1997210911
Application date： Jan. 30, 1996
Publication date： Aug. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】照度を広い範囲で変化させることが可能であり、かつ均一な照度で照射でき、光の利用効率も高い光安定性試験装置を提供する。【解決手段】回転楕円反射面を持つ凹面反射鏡4と、アーク中心がこの凹面反射鏡の第一焦点に位置するショートアーク放電ランプ1と、入射面が凹面反射鏡の第二焦点に位置するインテグレータレンズ2と、ランプとインテグレータレンズの間に配置され、相互に接近離間して光が通過するスリットの幅を調整する2枚の可動板からなる光量調整機構3とで構成し、凹面反射鏡で集光したランプの光を光量調整機構で光量を調節してインテグレータレンズに入射し、インテグレータレンズの出射光を照射台5上のワークWに照射するようにする。

Claim (excerpt)：

回転楕円反射面を持つ凹面反射鏡と、アーク中心が該凹面反射鏡の第一焦点もしくはその近傍に位置するショートアーク放電ランプと、入射面が該凹面反射鏡の第二焦点もしくはその近傍に位置するインテグレータレンズと、該ランプとインテグレータレンズの間に配置され、相互に接近離間して光が通過するスリットの幅を調節する2枚の可動板からなる光量調節機構とを備え、ショートアーク放電ランプの光を凹面反射鏡で集光し、光量調節機構のスリット幅で光量を調節してインテグレータレンズに入射し、インテグレータレンズの出射光を照射台上の被試験物に照射することを特徴とする光安定性試験装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭58-050510
  
• 特開昭58-045539