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J-GLOBAL ID：200903072614966790

路面粗さの測定方法

Inventor： 猪尾 守之
Applicant, Patent owner： 住友ゴム工業株式会社
Agent (1)： 苗村 正 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001106173
Publication number (International publication number)：2002303514
Application date： Apr. 04, 2001
Publication date： Oct. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】 路面の凹凸データから、簡便な演算手段を用いてミクロ粗さとマクロ粗さとを分析して数値化することができる。【解決手段】 路面から測定したオリジナルデータf(x) をX、そのずれデータf(x+λ) をYとした点列データ群(X,Y)の回帰直線を求め、この回帰直線と点列データ群(X,Y)との寄与率R2 を計算して、ずれピッチλと寄与率R2 との相関データ群(λ,R2 )を求める。又この相関データ群(λ,R2 )から求まる指数回帰曲線を用い、寄与率R2 が0.95〜1.0の時のずれピッチの値λaを路面のミクロ粗さ、寄与率R2 が0〜0.5の時のずれピッチの値λbを路面のマクロ粗さと定義する。

Claim (excerpt)：

路面粗さの測定方法であって、レーザ変位計を路面から一定距離を隔てて水平移動させ、サンプリング間隔λ0 毎の各位置xにて路面までの距離を測定したデータf( x) を測定順序で並べたオリジナルデータ列を作成するオリジナルデータ列作成ステップ;前記オリジナルデータ列を列方向に前記サンプリング間隔λ0 の整数n倍のずれピッチλをずらせてずれデータf( x+λ) からなるずれデータ列を作成するずれデータ列作成ステップ;前記オリジナルデータf( x) を独立変数X、ずれデータf( x+λ) を従属変数Yとした点列データ群(X,Y)を回帰分析して、Xに対するYの回帰直線?@を求め、この回帰直線?@と前記点列データ群(X,Y)との寄与率R2 を以下の式?A〜?Fを用いて計算し、前記ずれピッチλと寄与率R2 との相関データ群(λ,R2 )を求める相関データ計算ステップ;【数1】および、前記相関データ群(λ,R2 )を回帰分析して、λに対するR2 の指数回帰曲線?Gを求める相関データ分析ステップ;を含むとともに、【数2】前記指数回帰曲線?Gと相関データ群(λ,R2 )との寄与率R2 ’が0.9以上の時、0.95〜1.0の範囲からミクロ定義用の寄与率Ra2 を選択し、前記指数回帰曲線?Gにおいて、この寄与率Ra2 に相当するずれピッチの値λaを路面のミクロ粗さとして定義するとともに、0〜0.5の範囲からマクロ定義用の寄与率Rb2 を選択し、前記指数回帰曲線?Gにおいて、この寄与率Rb2 に相当するずれピッチの値λbを路面のマクロ粗さとして定義することを特徴とする路面粗さの測定方法。

F-Term (9)：

2F065AA50 ,  2F065CC40 ,  2F065FF11 ,  2F065GG06 ,  2F065MM07 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ18 ,  2F065UU05