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J-GLOBAL ID：200903072758392801
処理能力検査装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
伴 俊光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999303889
Publication number (International publication number)：2001120522
Application date： Oct. 26, 1999
Publication date： May. 08, 2001
Summary：
【要約】【課題】 被検者の視覚、聴覚、触覚の少なくとも一つの感覚に対する刺激に対する反応の時間的変化を精度良く測定、分析可能な、被検者の付与刺激に対する処理能力を検査するための処理能力検査装置を提供する。【解決手段】 被検者の視覚、聴覚、触覚の少なくとも一つの感覚に対する刺激をランダムに繰り返して被検者に付与する刺激付与手段と、繰り返し付与された刺激に対する被検者の反応を検知する反応検知手段と、繰り返し付与された刺激に対する被検者の反応に要する時間を計測する反応時間計測手段と、被検者の反応結果および反応時間計測手段による計測結果を記録する記録手段とを有することを特徴とする、被検者の付与刺激に対する処理能力を検査するための処理能力検査装置。
Claim (excerpt)：
被検者の視覚、聴覚、触覚の少なくとも一つの感覚に対する刺激をランダムに繰り返して被検者に付与する刺激付与手段と、繰り返し付与された刺激に対する被検者の反応を検知する反応検知手段と、繰り返し付与された刺激に対する被検者の反応に要する時間を計測する反応時間計測手段と、被検者の反応結果および反応時間計測手段による計測結果を記録する記録手段とを有することを特徴とする、被検者の付与刺激に対する処理能力を検査するための処理能力検査装置。
F-Term (3)：
4C038PP00
, 4C038PQ00
, 4C038PR00
Cited by examiner (8)
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