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J-GLOBAL ID：200903072810079629

最適フィッティングパラメータ決定方法および装置、並びに最適フィッティングパラメータ決定プログラム

Inventor： 村川 正宏 ,  樋口 哲也
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002160809
Publication number (International publication number)：2003108972
Application date： May. 31, 2002
Publication date： Apr. 11, 2003
Summary：

【要約】【課題】 初期値に依存することなく、局所的なピークにとらわれることなく、短い計算時間で効率的に物理モデルのフィッティングパラメータを最適化する。【解決手段】 物理モデルのパラメータを遺伝的アルゴリズムの染色体情報として実数ベクトルで表現し、染色体で表現された複数の個体を用意して遺伝的アルゴリズムにより物理量の測定データ点に対してフィッティング最適化する。遺伝的アルゴリズムの交叉処理の子個体は、三つの親個体から決定される正規分布確率で生成し、置換処理は、選択された親個体,複数の子個体から、全ての基準で優れている個体を次世代集団の個体とする。さらに複数の実験条件における測定データ点の組毎に最適なフィッティングパラメータを求め、実験条件間においてもフィッティングパラメータがなめらかに変化するように総合的にフィッティングさせる。これにより、実験を行っていない実験条件においても誤差なく物理現象を物理モデルでシミュレーションできる。

Claim (excerpt)：

複数のパラメータを有する物理モデルにおいて、物理量の測定により取得された離散的なデータ点に対する最適なフィッティングパラメータを決定するために、遺伝的アルゴリズムの染色体情報として前記パラメータを実数ベクトルとして表現し、前記染色体を持つ複数の個体の集団を用意して遺伝的アルゴリズムを用いてフィッティングパラメータの最適化することを特徴とする最適フィッティングパラメータ決定方法。

IPC (2)：

G06N 3/12 ,  G06N 3/00 550

FI (2)：

G06N 3/12 ,  G06N 3/00 550 C